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X射线分析

X射线衍射仪(XRD)

时间:2017-3-25 18:51:49  作者:  来源:国防科技工业应用化学一级站  查看:199  评论:0
内容摘要:生产厂家:荷兰PANalytical仪器型号:X’PertPro主要技术指标:角度重现性,±0.0001o;测角准确度,0.0025o;探测器最大技术率,>4×106cps;99%线性范围,>106cps;最小背景,<0.2cps;小角粒度测量范围,(0~300...

X射线衍射仪(XRD)

生产厂家:

    荷兰PANalytical

仪器型号:

    X’Pert Pro

主要技术指标:

    角度重现性,±0.0001o;测角准确度,0.0025o;探测器最大技术率,>4×106 cps;99%线性范围,>106 cps;最小背景,<0.2 cps;小角粒度测量范围,(0~300)nm。

功能及应用范围:

    可进行粉末及薄膜样品的晶体结构分析,物相鉴定(物相定性、定量分析),相变分析,结晶度测定等。此外,还可进行小角散射纳米粒度测定、应力测定、织构测定等。


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